1.1. Mục đích
Mục đích của bài thí nghiệm này là trang bị cho sinh viên những kiến thức
và kỹ năng thực nghiệm cần thiết để xác định hệ số nhớt của chất lỏng theo
phương pháp Stốc.
1.2. Yêu cầu
i. Nắm được cơ sở lý thuyết của thí nghiệm;
ii. Nắm được cấu tạo và hoạt động của thiết bị thí nghiệm dùng để xác định hệ
số nhớt của chất lỏng theo phương pháp Stốc;
iii. Biết cách tiến hành thí nghiệm nhằm xác định hệ số nhớt của chất lỏng theo
phương pháp Stốc;
iv. Viết được báo cáo thí nghiệm, tính được các sai số theo yêu cầu.
76 trang |
Chia sẻ: tieuaka001 | Lượt xem: 1393 | Lượt tải: 0
Bạn đang xem trước 20 trang nội dung tài liệu Bài giảng Thực hành Vật lý đại cương - Phần 2, để xem tài liệu hoàn chỉnh bạn click vào nút DOWNLOAD ở trên
n tượng nhiễu xạ ánh sáng gây
ra bởi mỗi khe hẹp và hiện tượng giao thoa của các chùm tia nhiễu xạ từ N khe
hẹp truyền tới mặt phẳng tiêu của thấu kính L. Vì vậy, ảnh nhiễu xạ trên màn
ảnh E trong trường hợp này trở lên phức tạp hơn so với một khe.
Hình 3.47. Vân nhiễu xạ qua khe hẹp
126
Trước tiên ta nhận thấy, tại những điểm ứng với các góc nhiễu xạ thoả
mãn điều kiện (3.91):
b/ksin với k=1, 2, 3 (3.93)
thì mọi khe hẹp của cách tử phẳng đều cho cực tiểu nhiễu xạ: cực tiểu nhiễu xạ
này được gọi là cực tiểu chính.
a) Sự phân bố cường độ sáng theo sin
Bây giờ ta xét sự giao thoa của các chùm tia
nhiễu xạ từ N khe hẹp truyền tới những vị trí
nằm trong khoảng giữa các cực tiểu chính.
Nhận xét thấy hiệu quang lộ giữa các cặp tia
nhiễu xạ tương ứng từ hai khe kế tiếp truyền
tới điểm M trên mặt phẳng tiêu F của thấu
kính hội tụ L bằng:
sindLL 12 (3.94)
Từ đó suy ra những tia nhiễu xạ có góc lệch thoả mãn điều kiện:
ksind với k = 0,1,2,3
hay d/ksin (3.95)
sẽ gây ra tại điểm M các dao động sáng cùng pha và chúng tăng cường lẫn nhau. Khi đó,
M sẽ là điểm sáng và gọi là cực đại chính bậc k.
+ Dễ dàng nhận thấy cực đại chính trung tâm ứng với k = 0 và sin =0 nằm tại
tiêu điểm F của thấu kính L. Hơn nữa, do d > b nên giữa hai cực tiểu chính sẽ có
một số cực đại chính (Hình 3.49a).
Hình 3.48. Nhiễu xạ qua
cách tử phẳng
Hình 3.49a. Vân nhiễu xạ qua cách tử phẳng
127
+ Người ta cũng chứng minh được rằng giữa hai cực đại chính kế tiếp, còn có
một số cực đại phụ ngăn cách bởi các cực tiểu phụ. Vị trí các cực tiểu phụ xác
định bởi góc lệch thoả mãn điều kiện:
Nd
k
sin (3.96)
với k’=1,2,3, trừ các giá trị N, 2N, 3N, Vì các cực đại phụ có cường độ
sáng rất nhỏ nên không vẽ trên hình 3.49a.
Kết quả là ảnh nhiễu xạ qua cách tử phẳng có số khe N khá lớn sẽ gồm
những vạch sáng song song nằm tại các vị trí xác định theo điều kiện (3.95). Các
vạch sáng này ngăn cách nhau bởi những khoảng tối và có cường độ sáng giảm
từ cực đại trung tâm ra xa nó về cả hai phía (xét trong phạm vi giữa hai cực tiểu
chính bậc 1 ứng với sin +/b và -/b).
Trong thí nghiệm này, ta sẽ nghiên cứu hiện tượng nhiễu xạ của chùm laser
chiếu qua một cách tử phẳng, khảo sát sự phân bố cường độ sáng trên ảnh nhiễu
xạ của nó, từ đó xác định bước sóng của Laser.
b. Xác định bước sóng của chùm Laser nhiễu xạ qua cách tử phẳng.
Từ ảnh nhiễu xạ, ta suy ra công thức xác định
bước sóng của chùm tia Laser bằng cách áp
dụng công thức (3.96) đối với cực đại chính bậc 1:
sin.d (3.97)
Đối với cực đại chính bậc 1 (hình 3.49b), góc
khá nhỏ nên có thể coi gần đúng:
f
a
tg
2
sin (3.98)
Thay (3.98) vào (3.97) ta tìm được hệ thức:
f
ad
2
(3.99)
Theo công thức (3.99), ta có thể xác định được bước sóng của chùm tia Laser
nếu cho biết trước chu kỳ d của cách tử phẳng.
2.3. Sơ lược về nguồn sáng Laser (xem phụ lục 1)
Hình 3.49b. Nhiễu xạ của
chùm laser
128
Laser là từ viết tắt của cụm từ tiếng Anh – Light Amplification by stimulated
Emision of Radiation – (Khuếch đại ánh sáng bằng phát xạ cảm ứng) để chỉ các
bức xạ điện từ kết hợp, có độ đơn sắc cao, có cường độ lớn, và tính định hướng
cao, được tạo ra trong các điều kiện đặc biệt.
Khi chiếu bức xạ điện từ đơn sắc có tần số vào một chất, electron của các
nguyên tử ở mức năng lượng cơ bản 1E hấp thụ bức xạ và chuyển lên mức năng
lượng kích thích 2E cao hơn ( 12 EE ). Nhưng electron chỉ tồn tại ở mức năng
lượng kích thích 2E trong khoảng thời gian ngắn (10
-3s10-8 s) và được gọi là
thời gian sống , sau đó chúng lại chuyển về mức năng lượng cơ bản 1E và phát
bức xạ.
Quá trình chuyển mức năng lượng khi hấp thụ hoặc phát xạ đều tuân theo hệ
thức Anhstanh: 12 EEh (3.100)
với h = 6,625.10-34 Js là hằng số Planck và h là năng lượng photon của bức
xạ điện từ có tần số .
Trong thí nghiệm này, ta dùng laser bán dẫn - gọi là diode laser. Khi cho
dòng điện một chiều có cường độ thích hợp chạy qua lớp tiếp xúc p-n tạo ra từ
chất bán dẫn cơ bản GaAs, tia Laser sẽ được phát ra do quá trình tái hợp p-n để
tạo ra các photon. Nguyên tắc tạo ra trạng thái đảo mật độ trong diode Laser như
sau: Các electron trong vùng hoá trị chuyển lên vùng dẫn nhờ một quá trình
“bơm” (kiểu điện hoặc kiểu quang). Kết quả là giữa các mức năng lượng thấp
của vùng dẫn và các mức năng lượng cao ở vùng hoá trị có sự đảo mật độ của
electron. Trạng thái đảo mật độ electron là trạng thái không cân bằng, nó chỉ tồn
tại trong khoảng thời gian rất ngắn 10-13 s và đủ để gây ra hiệu ứng Laser.
3. Trình tự thí nghiệm
3.1. Dụng cụ (hình 3.50)
1. Nguồn phát tia laser bán dẫn (Diode Laser);
2. Cách tử nhiễu xạ phẳng;
3. Thấu kính hội tụ (2 điốp) và hộp bảo vệ;
4. Bộ cảm biến và khuếch đại;
5. Đồng hồ chỉ thị cường độ vạch nhiễu xạ;
6. Thước Panme chính xác 0,01 mm;
129
7. Hệ thống giá đỡ thí nghiệm.
3.2. Trình tự thí nghiệm
3.2.1. Cơ chế hoạt động của bộ thiết bị khảo sát nhiễu xạ (hình 3.51)
Hình 6. Sơ đồ thí nghiệm
+ Diode laser DL: phát ra chùm tia laser màu đỏ chiếu vuông góc vào mặt
1 2 3 5 4 6 7
Hình 3.51. Cơ chế hoạt động của bộ thiết bị khảo sát nhiễu
xạ
Hình 3.50. Bộ thí nghiệm xác định bước sóng chùm Laser
130
+ Khi đi qua cách tử, chùm tia Laser bị nhiễu xạ và truyền qua thấu kính hội tụ
TK (có tiêu cự f = 500 mm), cho ảnh nhiễu xạ trên mặt phẳng tiêu diện của TK .
+ Để xác định vị trí các cực đại nhiễu xạ và khảo sát sự phân bố cường độ sáng
của chúng, ta dùng một cảm biến quang điện silicon QĐ đặt trong một hộp kín,
phía trước có màn chắn sáng, có khe hở rộng khoảng 0,2–0,3 mm. Hộp cảm biến
được gắn trên đầu trục của panme P, nên có thể di chuyển được theo phương
ngang. Cường độ tia Laser rọi vào cảm biến quang điện QĐ, chuyển đổi thành
cường độ dòng điện, chạy qua một điện trở sun 220 . Hiệu điện thế rơi trên
điện trở sun này được đo và chỉ thị bởi Milivon kế điện tử MV, có lối vào là một
ổ cắm 5 chân C.
3.2.2. Kiểm tra và điều chỉnh chuẩn trực cho hệ thống
Để kết quả được chính xác, trước hết ta kiểm tra và điều chỉnh chuẩn trực
cho hệ thống, tức là điều chỉnh sao cho chùm tia Laser tới đập thẳng góc vào
bảng màn ảnh, đúng vào vị trí trung tâm của cảm biến QĐ. Muốn vậy ta hãy
thực hiện các theo bước sau:
+ Vặn panme P đưa cảm biến quang điện QĐ về vị trí trung tâm (khoảng
12,5mm trên thân thước kẹp của panme).
+ Nhấc bàn trượt có gắn cách tử ra khỏi giá quang học và đặt xuống mặt bàn.
Cắm phích điện của nguồn Laser DL vào ổ điện ~220 V và bật công tắc K1 của
nó, ta nhận được chùm tia Laser màu đỏ. Quan sát cảm biến quang điện QĐ xem
chùm tia Laser có chiếu đúng vào tâm lỗ tròn trên mặt cảm biến hay không. Nếu
lệch, nới nhẹ các con ốc trên khớp đa năng để xoay nguồn laser DL sao cho tia
sáng rọi đúng vào tâm lỗ và vuông góc với bề mặt lỗ. Với hai phép xoay quanh
hai trục và hai phép tịnh tiến dọc theo hai trục của khớp vạn năng, ta hoàn toàn
có thể điều chỉnh chuẩn trực chính xác cho hệ thống.
+ Đặt bàn trượt có gắn cách tử trở lại giá quang học. Điều chỉnh vị trí cách tử
nhờ khớp nối đa năng của nó, sao cho tia laser rọi đúng vào tâm (hình vuông)
cách tử. Tiếp tục điều chỉnh xoay cách tử sao cho tia phản xạ từ mặt cách tử
ngược trở lại đúng vào lỗ ra của tia Laser. Dịch chuyển bàn trượt dọc theo giá
quang học đến vị trí sao cho thấu kính TK cách mặt cảm biến quang điện QĐ
đúng 500 mm thì chốt lại và giữ cố định khoảng cách này trong suốt quá trình
đo.
131
Nếu hệ thống đã được điều chỉnh đúng thì:
+ Trên mặt cảm biến quang điện QĐ xuất hiện một dãy chấm sáng sắc nét, nằm
trên đường thẳng nằm ngang đi qua tâm lỗ.
+ Nếu ta đẩy bàn trượt dọc theo giá quang học, vệt sáng của chùm Laser trên
cách tử không thay đổi vị trí.
3.2.3. Tiến hành thí nghiệm
a. Quy “0” và điều chỉnh độ nhạy của miliVôn kế điện tử MV
+ Cắm phích lấy điện của Milivôn kế điện tử MV vào ổ điện ~220 V.
+ Đặt núm chọn thang đo của bộ MV ở vị trí 1,5mV và vặn nhẹ núm biến trở Rf
của nó về vị trí tận cùng bên trái. Bấm khoá K trên mặt bộ MV, chờ khoảng 3
phút để bộ khuếch đại ổn định.
+ Tiến hành điều chỉnh số “0” cho milivôn kế điện tử MV bằng cách: che sáng
hoàn toàn khe hở của cảm biến quang điện QĐ (hoặc tắt nguồn laser bằng cách
ngắt công tắc K1 trên nguồn Laser DL), vặn từ từ núm biến trở “quy 0” (lắp
ngay dưới đồng hồ chỉ thị) để kim đồng hồ MV chỉ đúng số 0.
+ Để điều chỉnh độ nhạy thích hợp cho MiliVôn kế điện tử MV, ta vặn từ từ cán
của panme P sao cho cực đại giữa (có cường độ sáng lớn nhất) của ảnh nhiễu xạ
lọt đúng vào giữa khe hở của cảm biến quang điện QĐ. Khi đó kim của miliVôn
kế điện tử MV lệch mạnh nhất. Vặn núm xoay của biến trở Rf sao cho kim của
miliVôn kế điện tử lệch tới vạch cuối thang đo (80 hoặc 90). (Nếu không đạt
được độ lệch này, thì phải vặn mạch chuyển thang đo của bộ MV sang vị trí “15
mV” ứng với độ nhạy lớn nhất của nó, và tiến hành điều chỉnh theo cách trên).
b. Khảo sát sự phân bố cường độ sáng trong ảnh nhiễu xạ Laser
Vì cường độ sáng trong ảnh nhiễu xạ Laser tỷ lệ với cường độ I của dòng
quang điện, tức tỷ lệ với hiệu điện thế U rơi trên điện trở R, nên ta có thể khảo
sát sự phân bố cường độ sáng trong ảnh nhiễu xạ laser bằng cách khảo sát sự
biến thiên của hiệu điện thế U theo vị trí x của các cực đại chính nằm giữa hai
cực tiểu chính (ứng với b/sin ) tuân theo các bước sau đây:
1. Vặn từ từ cán của panme P để dịch chuyển khe hở của cảm biến quang điện
QĐ trong khoảng giữa hai cực tiểu chính bậc một trên ảnh nhiễu xạ. Để thuận
tiện ta vặn panme P về phía giá trị 0 của nó, sao cho khe của tế bào quang điện
132
QĐ trùng mép ngoài của bậc 1. Đọc và ghi giá trị của x và U tương ứng vào
bảng 3.20.
2. Sau đó vặn panme P dịch chuyển một khoảng nhỏ bằng 0,10 mm (ứng với
dịch chuyển 10 vạch trên du xích của panme P) để khe của tế bào quang điện
QĐ tiến về phía vân trung tâm. Đọc và ghi giá trị x và hiệu điện thế U tương ứng
vào bảng 3.20. Tiếp tục tiến hành điều chỉnh panme P mỗi lần 0,10mm như trên
sau đó đọc và ghi giá trị hiệu điện thế U tương ứng với mỗi vị trí x trên panme P
vào bảng 3.20.
c. Xác định bước sóng của chùm tia Laser.
Sau khi xác định được cực đại sáng giữa ứng với k = 0, vặn từ từ panme P
để đo khoảng cách a giữa hai cực đại nhiễu xạ bậc nhất ứng với k = 1 nằm đối
xứng ở hai bên cực đại sáng giữa. Trong thí nghiệm này, để xác định chính xác
vị trí đỉnh của các cực đại nhiễu xạ, ta tiến hành đo như sau:
+ Dịch chuyển panme P theo một chiều từng 0,01mm tại những điểm lân cận ở
hai phía của các đỉnh này để tìm giá trị cực đại của hiệu điện thế U.
+ Thực hiện phép đo này 5 lần, đọc và ghi giá trị của a trên thước panme vào
bảng 3.21.
4. Câu hỏi kiểm tra
4.1. Định nghĩa hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng. Mô tả ảnh nhiễu xạ của chùm tia
sáng song song chiếu qua một khe hở hẹp.
4.2. So sánh ảnh nhiễu xạ của chùm tia sáng song song chiếu qua một cách tử
phẳng với ảnh nhiễu xạ của chùm tia sáng song song chiếu qua một khe hở hẹp.
Nêu rõ các công thức xác định vị trí các cực tiểu chính và của các cực đại chính
trong ảnh nhiễu xạ.
4.3. Khi xác định bước sóng của chùm tia laser nhiễu xạ qua cách tử, tại sao
không đo trực tiếp khoảng cách giữa cực đại chính bậc 1 và cực đại giữa (ứng
với k=0), mà lại đo khoảng cách a giữa hai cực đại chính 1 (ứng với k = 1)?
4.4. Khi khảo sát sự phân bố cường độ sáng trong ảnh nhiễu xạ Laser, tại sao ta
chỉ xét trong khoảng giữa hai cực tiểu chính bậc 1 (ứng với k=1) và phải kiểm
tra lại vị trí đỉnh của các cực đại chính bằng cách chỉ dịch chuyển panme P từng
0,01mm (mà không dịch chuyển từng 0,10mm như lúc đầu) theo một chiều?
133
5. Báo cáo thí nghiệm
Điểm Thời gian lấy số liệu:
Ngày tháng năm
Chữ ký của giáo viên hướng dẫn:
5.1. Mục đích thí nghiệm
.................................................................................................................................
.................................................................................................................................
5.2. Kết quả thí nghiệm
Bảng số liệu
Bảng 3.20. Khảo sát sự phân bố cường độ sáng trong ảnh nhiễu xạ laser
+ Độ chính xác của thước panme: ..(mm)
+ Độ chính xác của MiliVon kế điện tử MV ..(mV)
x (mm)
I (mA)
x (mm)
I (mA)
Bảng 3.21. Xác định bước sóng của chùm tia Laser
+ Chu kì của cách tử phẳng: d = (mm-1)
+ Tiêu cự của thấu kính hội tụ: f = (mm)
+ Độ chính xác của panme: ..(mm)
+ Độ chính xác của thước milimét: ..(mm)
Lần x1 (mm) x2 (mm) a = |x2 – x1| (mm)
1
2
3
134
4
5
Giá trị
trung bình
a =
5.3. Khảo sát sự phân bố cường độ sáng trong ảnh nhiễu xạ Laser
Căn cứ vào số liệu x và I ở bảng 3.20, vẽ đồ thị : )(xfI .
5.4. Tính và biểu diễn kết quả bước sóng của chùm Laser
Căn cứ vào số liệu đo ở bảng 3.21 và công thức (3.99) để tính bước sóng
của chùm Laser và viết kết quả.
f
da
2
.
a
a
f
f
d
d
135
.
5.5. Nhận xét và đánh giá kết quả
(Trình bày ý nghĩa vật lý của bài thí nghiệm, nhận xét và đánh giá kết quả đo
được, kiến nghị)
136
Phụ lục 1
GIỚI THIỆU VỀ NGUỒN SÁNG LASER
Tia Laser là một bức xạ điện từ có độ đơn sắc cao, có cường độ lớn, có
tính kết hợp và định hướng cao. Dụng cụ phát ra tia Laser gọi là nguồn sáng
Laser, hay đơn giản là Laser. Laser là viết tắt của cụm từ tiếng Anh “Light
Amplification by Stimulaled Emisson of Radiation” có nghĩa là “Khuếch đại ánh
sáng bằng phát xạ cảm ứng”. Ta hãy tìm hiểu về nguyên lí hoạt động của Laser:
Khi chiếu bức xạ điện từ đơn sắc có tần số f vào một chất, electron hoá trị
của các nguyên tử ở mức năng lượng cơ bản E1 hấp thụ bức xạ và chuyển lên
mức năng lượng kích thích E2 cao hơn (E2 > E1). Nhưng các electron chỉ tồn tại
ở mức năng lượng kích thích E2 trong khoảng thời gian ngắn (cỡ 10
-3-10-8 s) -
gọi là thời gian sống , sau đó chúng lại chuyển về mức năng lượng cơ bản E1và
phát bức xạ (hình 1). Quá trình chuyển mức năng lượng khi hấp thụ hoặc phát xạ
đều tuân theo hệ thức Anhstanh:
12 EEhf
với h = 6,625.10-34Js là hằng số Planck, hf là năng lượng photon của bức xạ
điện từ.
Như vậy, nếu số electron ở mức năng lượng cơ bản E1 càng nhiều thì khả
năng để nguyên tử hấp thụ bức xạ càng lớn; còn nếu số electron ở mức năng
lượng kích thích E2 càng nhiều thì khả năng nguyên tử phát xạ càng lớn. Nói
cách khác là: xác suất xảy ra hấp thụ tỷ lệ với mật độ N1 của electron ở mức
năng lượng E1 và xác suất xảy ra phát xạ tỷ lệ với mật độ N2 của electron ở mức
năng lượng kích thích E2.
Thông thường thì N2 < N1, nên xác suất xảy ra phát xạ nhỏ hơn xác suất
xảy ra hấp thụ. Trong điều kiện này, quá trình phát xạ không có tính kết hợp và
hấp thụ phát xạ
E1
Hình 1. Nguyên lý hoạt động của Laser
E2
137
được gọi là phát xạ tự phát, trong đó các bức xạ tự phát hoàn toàn độc lập với
nhau, không có sự liên hệ về pha và hướng. Nhưng, nếu bằng cách nào đó tạo ra
được N2 > N1 thì xác suất xảy ra phát xạ lớn hơn xác suất xảy ra hấp thụ. Khi đó
quá trình phát xạ có tính kết hợp và được gọi là phát xạ cảm ứng, trong đó các
bức xạ cảm ứng có cùng tần số, cùng pha, cùng hướng và cùng độ phân cực với
bức xạ kích thích. Như vậy, điều kiện cần để có thể xảy ra phát xạ cảm ứng là có
sự đảo mật độ hạt, nghĩa là mật độ nguyên tử ở trạng thái năng lượng kích thích
phải lớn hơn mật độ nguyên tử ở trạng thái năng lượng cơ bản. Môi trường chất
ở trạng thái có sự đảo mật độ hạt được gọi là môi trường kích hoạt. Có thể tạo ra
sự đảo mật độ hạt trong môi trường kích hoạt nhờ phương pháp kích thích kiểu
“bơm điện” (phóng điện qua môi trường kích hoạt), hoặc “bơm quang” (dùng
nguồn sáng thích hợp có cường độ mạnh chiếu vào môi trường kích hoạt) theo
nguyên tắc sau:
Giả sử một chất có hai mức năng lượng E1, E2 (với E2 > E1) có mật độ
nguyên tử tương ứng là N1, N2 và lúc đầu N1 > N2. Chiếu vào môi trường chất ấy
bức xạ kích thích có tần số f, một số nguyên tử được “bơm” từ mức E1 lên mức
E2, nên N1 giảm và N2 tăng. Nhưng khi N2 tăng, xác suất xảy ra phát xạ (nghĩa là
quá trình nguyên tử chuyển từ mức E2 về mức E1) cũng tăng lên. Do đó, N2 lại
giảm và N1 lại tăng. Kết quả là không thể đạt tới trạng thái đảo mật độ hạt trong
môi trường kích hoạt.
Để tạo ra trạng thái đảo mật độ hạt, người ta sử dụng môi trường kích hoạt
trong đó nguyên tử có ba (hoặc bốn) mức năng lượng E1, E2, E3 sao cho thời
gian sống 3 của nguyên tử ở mức E3 rất nhỏ so với thời gian sống 2 ở mức E2.
Bằng phương pháp “bơm” sao cho các nguyên tử bị kích thích sẽ chuyển từ mức
E1 lên mức E3. Nhưng vì 3 2 , nên các nguyên tử ở mức E3 nhanh chóng
chuyển về mức E2 để tạo thành trạng thái đảo mật độ hạt N2 > N1 và dẫn tới hiện
tượng phát xạ cảm ứng.
Hiện nay đã có nhiều loại nguồn Laser, trong đó môi trường kích hoạt có
thể là chất khí, lỏng, rắn. Laser khí He-Ne sử dụng chất kích hoạt là hỗn hợp khí
Heli (90%) và khí Neon (10%) ở áp suất thấp. Laser hồng ngọc sử dụng chất kích
hoạt là thanh hồng ngọc Rubi (tinh thể Al203) có pha ion Cr+3 với tỷ lệ 0,05%.
138
Trong thí nghiệm này, ta dùng diode Laser (Laser bán dẫn). Cho một
dòng điện một chiều có cường độ thích hợp chạy qua lớp tiếp xúc p-n tạo ra từ
các chất bán dẫn cơ bản như GaAs, Ga(AsP), (GaAl)As, tia Laser sẽ được phát
ra do quá trình tái hợp. Đây là một quá trình biến đổi trực tiếp khá hiệu quả từ
điện năng thành quang năng Laser, hiệu suất của diode Laser bán dẫn
%2
IV
p
n
phat
, của diode phát quang (LED) xấp xỉ 0,1 đến 1%. Nguyên tắc tạo ra
trạng thái đảo mật độ hạt trong diode laser như sau: Hai phía chuyển tiếp p-n của
diode Laser là các bán dẫn được pha tạp rất mạnh (suy biến), khi chuyển tiếp p-n
này được phân cực thuận các điện tử được phun vào vùng p còn các lỗ trống
phun vào vùng n. Như vậy ở vùng gần chuyển tiếp, giữa các mức năng lượng
thấp của vùng dẫn và các mức năng lượng cao của vùng hoá trị nồng độ hạt tải
được tạo ra đủ để hiệu ứng Laser xuất hiện, tức là có hiện tượng đảo mật độ
electron.
139
Phụ lục 2
BẢNG MỘT SỐ HẰNG SỐ VẬT LÝ CƠ BẢN
Stt
H»ng sè
KÝ
hiÖu
Gi¸ trÞ lµm
trßn
Gi¸ trÞ thùc nghiÖm
tèt nhÊt (1986)
Gi¸ trÞ (a)
Sai sè
t-¬ng
®èi (b)
1 H»ng sè hÊp dÉn G
6,67.10-
11m3/s2.kg
6,67260 100
2
Tèc ®é ¸nh s¸ng
trong ch©n kh«ng
C 3,00.108m/s 2,99792458
3 H»ng sè khÝ lý tuëng R 8,31J/molK 8,314510 8,4
4 H»ng sè Avogadro NA 6,02.1023mol-1 6,0221367 0,59
5 H»ng sè Boltzmann K 1,38.10-23J/K 1,380657 11
6
ThÓ tÝch mol cña khÝ
lý t-ëng ë §KTC
Vm 2,24.10-2m3/mol 2,24109 8,4
7
H»ng sè Stefan-
Boltzmann
5,67.10-8
W/m2.K4
5,67050 34
8 §iÖn tÝch nguyªn tè E 1,60.10-19C 1,6217738 0,30
9 Khèi l-îng electron me 9,11.10-31kg 9,1093897 0,59
10 Khèi l-îng electron c) me 5,49.10-4u 5,48579902 0,023
11
§iÖn tÝch riªng
electron
e/me 1,76.1011C/kg 1,75881961 0,30
12 H»ng sè ®iÖn o 8,85.10-12F/m 8,85418781762
13 H»ng sè tõ thÈm 0 1,26.10-6H/m 1,2563706143
14 H»ng sè Rydberg R 1,10.107m-1 1,0973731534 0,0012
15 B¸n kÝnh Bohr rB 5,29.10-11m 5,29177149 0,045
16
Momen tõ cña
electron
e 9,28.10-24J/T 9,2847700 0,34
140
17
Momen tõ cña
proton
p 1,41.10-26J/T 1.41060761 0,34
18 Manheton Bohr B 9,27.10-24J/T 9,2740154 0,34
19 Manheton h¹t nh©n N 5,50.10-27J/T 5,0507865 0,34
20 H»ng sè Faraday F 9,65.104C/mol 9,6485309 0,30
21 H»ng sè Planck H 6,63.10-34Js 6,6260754 0,60
22
B-íc sãng Compton
cña electron
c 2,43.10-12m 2,42531058 0,089
23 Khèi l-îng proton mp 1,67.10-27kg 1,676230 0,59
24
Tû sè khèi l-îng
proton trªn khèi
l-îng electron
mp/
me
1840 1836,152701 0.020
25 Khèi l-îng n¬tron mn 1,68.10-27kg 1,6749286 0,59
26 Khèi l-îng protonc) mp 1,0073u 1,007266470 0,012
27 Khèi l-îng n¬tonc) mn 1,0087u 1,008664704 0,14
28 Khèi l-îng nguyªn
tö hydroc)
M1H 1,0078u 1,007825036 0,011
29 Khèi l-îng nguyªn
tö ®¬t¬ri c)
M2H 2,0141u 2,0141019 0,053
30 Khèi l-îng nguyªn
tö heli c)
M4H
e
4,0026u 4,0026032 0,067
Chó thÝch :
a) C¸c gi¸ trÞ ghi trong cét nµy ph¶i cïng ®¬n vÞ vµ cã cïng bËc luü thõa cña
10 nh- gi¸ trÞ lµm trßn.
b) TÝnh ra phÇn triÖu.
c) Khèi l-îng ®-îc ghi theo ®¬n vÞ khèi nguyªn tö (u) trong ®ã 1u =
1,6605402.10-27 kg .
141
Phụ lục 3
BẢNG CÁC ĐƠN VỊ CƠ BẢN VÀ DẪN XUẤT
Các đơn vị cơ bản
Các đơn vị đo lường cơ bản (hệ SI) dưới đây là nền tảng cơ sở để từ đó
các đơn vị khác được suy ra (dẫn xuất), chúng là hoàn toàn độc lập với nhau.
Các định nghĩa dưới đây được chấp nhận rộng rãi.
Bảng 1. Các đơn vị đo lường cơ bản
Tên Ký hiệu Đại lượng Định nghĩa
Mét m Chiều dài Đơn vị đo chiều dài tương đương với chiều dài
quãng đường đi được của một tia sáng trong
chân không trong khoảng thời gian
1/299792458 giây (CGPM lần thứ 17 (1983)
Nghị quyết số 1, CR 97). Con số này là chính
xác và mét được định nghĩa theo cách này.
Kilôgam kg Khối
lượng
Đơn vị đo khối lượng bằng khối lượng của
kilôgam tiêu chuẩn quốc tế (quả cân hình trụ
bằng hợp kim platiniriđi) được giữ tại Viện đo
lường quốc tế (viết tắt tiếng Pháp: BIPM),
Sèvres, Paris (CGPM lần thứ 1 (1889), CR
3438). Cũng lưu ý rằng kilôgam là đơn vị đo
cơ bản có tiền tố duy nhất; gam được định
nghĩa như là đơn vị suy ra, bằng 1/1000 của
kilôgam; các tiền tố như mêga được áp dụng
đối với gam, không phải kg; ví dụ Gg, không
phải Mkg. Nó cũng là đơn vị đo lường cơ bản
duy nhất còn được định nghĩa bằng nguyên
mẫu vật cụ thể thay vì được đo lường bằng các
hiện tượng tự nhiên
Giây s Thời gian Đơn vị đo thời gian bằng chính xác
9192631770 chu kỳ của bức xạ ứng với sự
chuyển tiếp giữa hai mức trạng thái cơ bản
142
siêu tinh tế của nguyên tử xêzi - 133 tại nhiệt
độ 0 K (CGPM lần thứ 13 (1967-1968) Nghị
quyết 1, CR 103).
Ampe A Cường độ
dòng điện
Đơn vị đo cường độ dòng điện là dòng điện cố
định, nếu nó chạy trong hai dây dẫn song song
dài vô hạn có tiết diện không đáng kể, đặt cách
nhau 1 mét trong chân không, thì sinh ra một
lực giữa hai dây này bằng 2.10-7 niutơn trên
một mét chiều dài (CGPM lần thứ 9 (1948),
Nghị quyết 7, CR 70). SI (Hệ đo lường quốc
tế) 5/9.
Kelvin K Nhiệt độ Đơn vị đo nhiệt độ nhiệt động học (hay nhiệt
độ tuyệt đối) là 1/273,16 (chính xác) của nhiệt
độ nhiệt động học tại điểm cân bằng ba trạng
thái của nước (CGPM lần thứ 13 (1967) Nghị
quyết 4, CR 104).
Mol mol Số hạt Đơn vị đo số hạt cấu thành thực thể bằng với
số nguyên tử trong 0,012 kilôgam Cacbon12
nguyên chất (CGPM lần thứ 14 (1971) Nghị
quyết 3, CR 78). Các hạt có thể là các nguyên
tử, phân tử, ion, điện tử... Nó xấp xỉ
6,02214199.1023 hạt.
Candela cd Cường độ
chiếu sáng
Đơn vị đo cường độ chiếu sáng là cường độ
chiếu sáng theo một hướng cho trước của một
nguồn phát ra bức xạ đơn sắc với tần số
540.1012 héc và cường độ bức xạ theo hướng
đó là 1/683 oát trên một sterađian (CGPM lần
thứ 16 (1979) Nghị quyết 3, CR 100).
143
Các tiền tố trong hệ đơn vị cơ bản
Bảng 2. Tiền tố trong hệ SI
10x
Chữ viết liền thêm
trước
Viết tắt
1024 Yôta Y
1021 Zêta Z
1018 Êxa E
1015 Pêta P
1012 Têra T
109 Giga G
106 Mêga M
103 Kilô k
102 Héctô h
101 Đêca da
10−1 Đêxi d
10−2 Xenti c
144
10−3 Mili m
10−6 Micrô µ
10−9 Nanô n
10−12 Picô p
10−15 Phemtô f
10−18 Atô a
10−21 Giéptô z
10−24 Yóctô y
Một số đơn vị dẫn xuất thường gặp
Các đơn vị đo cơ bản có thể ghép với nhau để suy ra những đơn vị đo
khác cho các đại lượng khác gọi là các đơn vị dẫn xuất.
Bảng 3. Các đơn vị dẫn xuất
Đại lượng
Tên đơn
vị
Ký hiệu
Viết khác
theo SI
Thứ nguyên
Góc phẳng radian rad
Lực, trọng lượng newton N kg.m.s
-2
145
Tần số hertz Hz s-1
Công, năng lượng joule J N.m kg.m
2
.s
-2
Công suất watt W J/s kg.m
2
.s
-3
Áp suất, ứng suất pascal Pa N/m
2
kg.m
-1
.s
-2
Điện tích coulomb C s.A
Điện áp, điện thế volt V W/A kg.m
2
.s
-3
.A
-1
Điện dung farad F C/V kg
-1
.m
-2
.s
4
.A
2
Điện trở, trở kháng ohm Ω V/A kg.m
2
.s-3.A
-2
Độ tự cảm henry H Wb/A kg.m
2
.s
-2
.A
-2
Vận tốc, tốc độ m/s m.s
-1
Gia tốc m/s
2
m.s
-2
146
TÀI LIỆU THAM KHẢO
Tài liệu tiếng Việt
1. Lương Duyên Bình (chủ biên) (2007). Vật lý đại cương, NXB Giáo Dục.
2. Đỗ Trần Cát (1997). Cách xác định sai số của phép đo các đại lượng vật lý,
Đại học Bách Khoa Hà Nội.
3. Nguyễn Văn Hòa (2008). Vật lý đại cương, Trường Đại học Lâm nghiệp.
4. Đỗ Quốc Hùng (Chủ biên)(2006). Thực hành vật lý đại cương I, II, Học viện
Kỹ thuật Quân sự.
5. Tài liệu hướng dẫn vận hành thiết bị thí nghiệm vật lý do Viện Vật lý Kỹ
thuật (2003-2003). Đại học Bách Khoa HN sản xuất, Viện Vật lý Kỹ thuật, Đại
học Bách Khoa H
Các file đính kèm theo tài liệu này:
- bai_giang_thuc_hanh_vat_ly_dai_cuongp2_6049.pdf